2D X線および3D CTスキャナ | インスペクション・テクノロジーズ

phoenix microme|x neo および nanome|x neo

phoenix microme|x neoおよびnanome|x neoは、1つのシステムで高分解能2D X線技術と3Dコンピュータ断層撮影(CT)スキャン機能を提供し、産業用、自動車用、航空機用、消費者向け電子機器の半導体、PCBA、リチウムイオンバッテリーなどの電子部品の非破壊検査(NDT)を実現します。革新的なエンジニアリングに加えて非常に高い位置決め精度を備えたphoenix microme|x neoおよびnanome|x neoは、プロセスおよび品質管理、故障解析、研究開発における産業用電子部品のX線検査に最適です。

独自の機能

→ 簡単にプログラムできるCADベースのμAXIを使用したマイクロメートルの測定範囲で検査を自動化

→ アクティブ冷却で180 kV設定でハイダイナミックなライブイメージングを実現

→ 3D CT / プラナーCTスキャンの鮮明なライブイメージングと高速データ取込：

→ GEの非常にダイナミックなDXRフラットパネル検知器で毎秒30フレームを実現

→ diamond|windowは同一高画質でデータ取得を最大2倍高速化

→ オプションで10秒以内の3D CTスキャンを提供

Unique features

Automated inspection in micrometer range with easy to program CAD based μAXI
Active cooling for high dynamic, live imaging at 180 kV configurations
Brilliant live imaging and fast data acquisition for 3D CT / planarCT scanning with:
30 frames per second with Waygate Technologies’ highly dynamic DXR flat panel detector
Up to 2 times faster data acquisition at same high image quality level with diamond|window
Option provided for 3D CT scans within up to 10 seconds

We used to be GE Inspection Technologies, now we’re Waygate Technologies, a global leader in NDT solutions with more than 125 years of experience in ensuring quality, safety and productivity.

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業界をリードする最小検出能、検出速度と画質: → ハイダイナミックGE DXRデジタル検知器アレイによる鮮明なライブ検査画像

→ 大型27インチモニターに加えて非常に高い欠陥カバレッジと繰り返し性

→ ナノフォーカスによる0.5 µmまたは0.2 µmの最小検出能

→ 回転傾斜検査ビューでも、CADおよび検査結果のライブオーバーレイ

→ 高出力180 kV / 20 Wマイクロまたはナノフォーカスチューブにより、高吸収性電子サンプルに対応