2D X線および3D CTスキャナ | インスペクション・テクノロジーズ

phoenix microme|x neo および nanome|x neo

phoenix microme|x neoおよびnanome|x neoは、1つのシステムで高分解能2D X線技術と3Dコンピュータ断層撮影(CT)スキャン機能を提供し、産業用、自動車用、航空機用、消費者向け電子機器の半導体、PCBA、リチウムイオンバッテリーなどの電子部品の非破壊検査(NDT)を実現します。革新的なエンジニアリングに加えて非常に高い位置決め精度を備えたphoenix microme|x neoおよびnanome|x neoは、プロセスおよび品質管理、故障解析、研究開発における産業用電子部品のX線検査に最適です。

 

独自の機能

 

簡単にプログラムできるCADベースのμAXIを使用したマイクロメートルの測定範囲で検査を自動化

アクティブ冷却で180 kV設定でハイダイナミックなライブイメージングを実現

3D CT / プラナーCTスキャンの鮮明なライブイメージングと高速データ取込:

GEの非常にダイナミックなDXRフラットパネル検知器で毎秒30フレームを実現

diamond|windowは同一高画質でデータ取得を最大2倍高速化

オプションで10秒以内の3D CTスキャンを提供

Unique features

  • Automated inspection in micrometer range with easy to program CAD based μAXI
  • Active cooling for high dynamic, live imaging at 180 kV configurations
  • Brilliant live imaging and fast data acquisition for 3D CT / planarCT scanning with:
  • 30 frames per second with Waygate Technologies’ highly dynamic DXR flat panel detector
  • Up to 2 times faster data acquisition at same high image quality level with diamond|window
  • Option provided for 3D CT scans within up to 10 seconds

We used to be GE Inspection Technologies, now we’re Waygate Technologies, a global leader in NDT solutions with more than 125 years of experience in ensuring quality, safety and productivity.

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