초음파 접촉식 변환기
ultrasonic contact transducers by krautkramer

 

Krautkrämer 초음파 프로브 및 변환기

Waygate의 Krautkramer 초음파 접촉식 변환기와 프로브는 사용이 간편하고 견고하며, 무엇보다도 가장 정확한 상용 초음파 시험 도구 중 하나입니다. 이는 항상 보다 정확한 결과를 얻을 수 있음을 의미합니다. Waygate Technologies는 다수의 수직 빔 단일 요소, 수직 빔 이중 요소, 경사각 빔 옵션 등 다양한 접촉식 프로브를 제공합니다.

  • 수직 빔 1요소 프로브
  • 수직 빔 2요소 프로브
  • 경사각 빔 프로브

 

Waygate Technologies(이전 GE Inspection Technologies)는 NDT 솔루션 분야의 글로벌 리더로, 품질, 안전, 생산성을 보장하는 부문에서 125년이 넘는 경험과 역사를 보유하고 있습니다.



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초음파 프로브: 경쟁 분석

Waygate Technologies는 NDT 분야의 세계적인 리더로서 기업의 명성은 결국 그 성과로 인정 받게 된다고 믿고 있습니다.

현장에서 프로브를 사용하여 가장 효율적이고 신뢰할 수 있는 데이터를 얻기 위해서는 결코 우연을 바랄 수 없습니다. 이 경쟁 분석은 Waygate Technologies의 세 가지 초음파 프로브를 소개하면서 다른 경쟁업체의 제품들과 그 성능을 비교합니다. 분석 결과를 보시면 최선의 선택을 했다는 확신이 들 것입니다.



Waygate Technologies의 접촉식 프로브 모두 보기
수직 빔 변환기 - 단일 요소

일반적으로 수동 검사에 사용되는 수직 빔 단일 요소 변환기는 기하학적 특성이 일정하고 접촉면이 상대적으로 매끄러운 부품을 스캔하는 데 적합합니다. 결함이나 표면에 평행하는 후벽을 식별해야 하거나 표면에 수직인 빔을 검출해야 하는 평면 또는 곡면도 해당됩니다. 재료의 두꺼운 단면을 침투해야 하는 경우 표면 부근 분해능이 높은 이 프로브를 접촉 매질층(일반적으로 젤, 오일 또는 페이스트 등)과 함께 사용할 수 있습니다.

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수직 빔 변환기 - 이중 요소(TR) 프로브

수직 빔 이중 요소(TR) 변환기는 표면과 평행한 결함이나 후벽(backwall) 또는 표면과 수직 방향인 빔으로 검출할 수 있는 결함이나 후벽(backwall)을 찾기 위해 재료의 박편을 수동으로 스캔하는 데 가장 적합합니다. 이 프로브는 표면 부근 분해능이 뛰어나고 산란으로 인한 노이즈가 적어 혼선 장벽(crosstalk barrier)으로 구분되는 요소를 송수신할 수 있습니다. 곡선형의 거친 부품과 표면에서 윤곽선을 따라 결합될 수 있으며 접촉 매질층(일반적으로 젤, 오일 또는 페이스트 등)이 필요합니다.

유럽 지역 고객: 프로브 모델이 측면 장착 Lemo 00 커넥터, 측면 장착 Microdot SEB..KF 유형을 사용합니다.

북미 지역 고객: 프로브 모델이 고정형 BNC 케이블(ADP) 또는 측면 장착 MMD(FDU)를 사용합니다.

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경사각 빔 프로브

경사각 빔 프로브는 용접과 같은 경사진 결함이 있는 부품에 적합하며 때때로 기계식 또는 자동화 시험에도 사용됩니다. 이 변환기는 모드 전환 방식으로 횡파를 발생시키는 대부분의 표준 변환기와 달리 굴절력을 사용하여 사전 설정된 각도로 횡파와 종파를 전송합니다. 필수 또는 교체 가능한 웨지(wedges)에 요소가 장착되므로 접촉 매질층(일반적으로 젤, 오일 또는 페이스트 등)이 필요합니다.

경사각 빔 프로브는 단일 및 이중 요소 유형이 있으며 여러 크기로 제공됩니다.

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경쟁제품 벤치마킹의 중요성, 제조 CTQ에 대해 알아보고 Waygate Technologies의 MSW-QC Style Angle Beam(Gamma Series), Type F Fingertip Contact Probe(Alpha Series), RHP Straight Beam(Gamma Series)과 대표적인 경쟁업체 제품을 비교하는 방법을 알아보십시오.



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