Phoenix Nanotom M

Phoenix Nanotom® M

최고 성능의 nanoCT® 스캐너

 

Phoenix Nanotom® M은 과학 및 산업용 컴퓨터 단층 촬영(microCT 및 nanoCT®) 및 3D 계측을 위한 나노포커스 X-선 CT 시스템입니다. 시스템은 다양한 샘플과 용도에서 고유한 공간 및 대조 분해능을 구현합니다. CT 스캔, 재구성 및 분석 프로세스를 완전 자동 방식으로 실행함으로써 신뢰할 수 있는 CT 결과를 쉽고 빠르게 이용할 수 있습니다. 복잡한 물체를 정밀하고 재현 가능한 3D 방식으로 측정하며 초도 생산품 검사 보고서를 1시간 내에 자동으로 생성할 수 있습니다.

 



고공간 및 고대비 3D CT 해상도가 여기서 시작됩니다
 

고해상도 컴퓨터 단층 촬영(CT)은 비파괴적 구조 및 결함 분석, 그리고 품질 보증 또는 생산 관리 등의 광범위한 산업 및 과학 검사, 계측 분야에서 강력한 검사 도구가 되었습니다.
180 kV/20 W의 초고성능 나노포커스 X-선 튜브, 정밀 기계, 고급 소프트웨어 모듈을 갖춘 Nanotom® M은 광범위한 3D CT 분야에 적합한 검사 솔루션입니다. 스캔하면 완전한 3차원 CT 정보를 통해 비파괴적 슬라이스 시각화, 임의적 단면 보기 또는 자동 구멍 분석을 비롯한 수많은 분석 가능성을 확보할 수 있습니다.

하이라이트

하이라이트


혜택

이점:

  • 작은 물질부터 중간 크기 플라스틱 샘플까지 다양한 샘플 범위에서 고유한 공간 및 대조 배상도 구현
  • 최대 240 mm 직경, 250 mm 높이, 3 kg(6.6lbs) 무게의 전자 장치 어셈블리 지원
  • 안정적인 수집 조건, 몇 분 이내의 빠른 재구성 및 재현 가능한 측정 결과에 맞게 최적화된 3D 계측 패키지
  • 시스템 설계 및 고급 Phoenix Datos|x CT 소프트웨어에 따른 사용 편의성과 최적화
특징

Phoenix Nanotom® M은 CT와 관련된 모든 필수 기능을 포함하며 아주 높은 정확도와 재현성을 갖추었습니다.

  • 온도 안정화 캐비닛
  • 높은 정확도의 직접 측정 시스템
  • 매니퓰레이터의 진동 방지
  • 공기 베어링의 정밀 회전 장치
  • 우수한 영상 품질을 제공하는 온도 안정화 DXR 검출기
용도

NanoCT는 싱크로트론 설비 사용이 제한적인 여러 응용 분야에서 유용하게 활용할 수 있습니다(예:

  • 재료 과학
  • 마이크로 엔지니어링
  • 전자 제품/부품
  • 생명 과학/의료 기기
  • 지구 과학
Nanotom® M 특징
고성능 나노포커스 X-선 튜브

최대 200 nm 세부 검출능과 내부 냉각 기능이 있는 개방형 180 kV / 20 W 고성능 나노포커스 X-선 튜브 – 장기적인 안정성을 유지할 수 있도록 최적화됨

뛰어난 영상 품질

전용 온도 안정화 디지털 DXR 검출기를 통한 뛰어난 영상 품질(3072 x 2400 픽셀): 하이 다이내믹 레인지 > 10,000 : 1

Phoenix Datos|x CT 소프트웨어 패키지

Datos|x를 통해 전체 CT 프로세스를 완전히 자동화할 수 있습니다. 그러면 작업 시간과 작업자의 영향을 최소화하면서 CT 결과의 반복성과 재현성을 크게 늘릴 수 있습니다

고정밀 3D 계측

3D 계측 용도의 계측 번들 구성: 온도 안정화 캐비닛, 높은 정확도의 직접 측정 시스템, 화강암 소재 매니퓰레이터의 진동 방지

Helix|scan

더 긴 부품을 더 우수한 품질로 스캔할 수 있는 선택적인 Helix|scan 기능

Diamond|window

뛰어난 초점 안정성과 동일한 고화질 영상 품질 수준에서 최대 두 배 더 빠른 데이터 수집 속도 지원

기술 사양

FAQ
Why does nanoCT allow so much better CT results of small samples like conventional microCT?

Although the focal spot of microfocus tubes is as small as a few microns, it is still large enough to cause a half shadow, known as the penumbra effect. This results in a residual unsharpness and can be avoided by using nanofocus technology. Nanofocus provides focal spots well below one micron while maintaining the highest intensity needed. The Nanotom M combines state of the art microCT with the possibility to scan small, low absorbing samples with submicron detail detectability.

 

Nanotom M®
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