Phoenix|x-ray 고급 산업용 X-선 및 CT
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phoenix vtomex m easy tube exchange
 
우수한 정밀도, 성능 및 생산성

수상 경력에 빛나는 Waygate Technologies의 Phoenix|x-ray 솔루션은 고급 산업용 방사선 촬영 및 CT 시스템의 결합으로 과학 및 산업용 CT 및 3D 계측에서 초고해상도 전자 장치 검사에 이르는 다양한 검사 및 계측 작업을 지원합니다. 업계를 선도하는 혁신과 전문성이 하드웨어, 소프트웨어 및 서비스의 모든 요소에서 접목되어 그 어느 때보다 더 빠르고 정확하게 모든 결함을 찾아낼 수 있습니다.

실험실 및 앳라인 검사의 속도와 정확성 향상

3D 계측 및 분석 등 다양한 2D 및 3D 실험실 및 앳라인 검사 작업에 활용할 수 있는 강력하고 특별한 X-선 CT 시스템으로 빠르고 정확하게 검사 결과를 얻을 수 있습니다. 다양한 재질, 물체 및 구성 요소의 소형에서 대형 샘플을 최고의 정밀도로 검사합니다.

생산 라인 자동화 향상

인라인 및 앳라인 3D 검사 솔루션으로 영상 품질 저하 없이 생산성을 높일 수 있습니다. Phoenix Speed|scan CT64 스캐너는 인라인 스캔 작업을 완전 자동화하여 이전 모델 대비 검사 속도가 네 배 더 빠르며 대형 경금속 주조품에 사용하는 기존의 산업용 팬-빔 CT와 비교하면 검사 속도가 100배 이상 더 빠릅니다.

전문성과 최신 기술에 대한 접근성 개선

Customer Solutions Centers (CSC)의 주문형 검사에서 대여, 교육, 맞춤 설계, 컨설팅 서비스까지 모든 검사 서비스 분야에서 최신 기술과 전문성을 경험하실 수 있습니다. Waygate Technologies의 최신 Phoenix|x-ray CT 솔루션을 활용한 검사 스캔 서비스를 시간, 스캔 작업 또는 프로젝트 단위로 이용할 수 있으며 24/7 기술 지원, 문제 진단 지원 등을 위한 원격 서비스도 제공합니다.



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Xaminer product photo

Phoenix X|aminer

Entry level 2D microfocus X-ray solution of unprecedented price-performance ratio for quality control of electronics such as components and PCBA, offering brilliant productivity and profitability across the globe with hundreds installations and over 10 years great reputation on the market.



phoenix micromex and nanomex neo

Phoenix Microme|x Neo 및 Nanome|x Neo

고정밀 2D X-선 전자 제품 검사 기술과 3D 컴퓨터 단층 촬영(CT) 옵션이 한 시스템으로 통합되었으며 반도체, PCBA, 리튬이온 배터리와 같은 전자 구성 요소에 대한 효율적인 비파괴 시험(NDT)에 적합합니다.



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Phoenix V|tome|x S240

2D X-선 검사 및 3D 컴퓨터 단층 촬영을 위한 다목적 고해상도 시스템으로, 최대 두 배 더 빠른 microCT 스캔과 두 배 더 높은 분해능으로 microCT 및 nanoCT 스캐너에서 탁월한 유연성과 효율성을 제공합니다.



Phoenix V|tome|x M300

Phoenix V|tome|x M300

3D 계측 및 분석을 목적으로 Scatter|correct 기술을 적용하여 설계된 세계 최초의 microCT 스캐너로, 산란 아티팩트를 자동으로 제거하여 영상 품질을 개선합니다. 고품질 3D microCT 및 nanoCT 결과와 300kV 투과율에 따른 뛰어난 계측 정밀도로 많은 검사를 안전하게 처리할 수 있습니다.



Phoenix V|tome|x C CT scanner

Phoenix V|tome|x C450

소형 고흡수성 부품과 대형 경금속 주조품에 맞게 특수 설계된 강력한 소형 450kV 정밀도 CT 스캐너입니다. 생산 현장에 맞는 설계로 유지보수 부담이 적고 속도와 유연성이 뛰어나 반자동 비파괴 시험과 3D 계측에 모두 효과적입니다.





Phoenix Nanotom® M

Phoenix Nanotom® M

Phoenix Nanotom® M 是一款用于科学和工业计算机断层扫描(microCT 和 nanoCT®)和 3D 计量的纳米聚焦 X 射线 CT 系统。 该系统在广泛的样品及应用范围内实现了独特的空间性及对比分辨率。 全自动执行 CT 扫描、重建和分析过程,确保其易于使用,并快速提供可靠的 CT 结果。 可对复杂物体进行精确和可重复的 3D 测量,并在一小时内自动生成首件检验报告。



Phoenix V|tome|x L 300

Phoenix V|tome|x L 300

高度灵活的 CT 扫描仪,用于检测复合材料、铸件和精密增材制造 (AM) 零部件中的缺陷和空隙

Phoenix V|tome|x L 300 是一个多功能的高分辨率步入柜式微聚焦系统,配备用于 3D 计算机断层扫描(结构缺陷分析和计量)和 2D 无损 X 射线检测的 nanoCT® 选件。The Phoenix V|tome|x L 300 is a versatile high-resolution walk-in cabinet microfocus system with nanoCT® option for 3D computed tomography (structure failure analysis & metrology) and 2D non-destructive X-ray inspection.



Phoenix V|tome|x L450

Phoenix V|tome|x L450

限定样品尺寸和密度的高级小聚焦 CT 扫描

作为 Phoenix V|tome|x L300 系统下一技术扩展阶段的产品,Phoenix V|tome|x L450 具备更高的灵活性,能够检测更大尺寸的样品,而且其 450 kV/1500 W 小聚焦和可选的 300 kV 微聚焦 X 射线管能够提供更强的穿透力,使其成为铸件、大型组件和增材制造 (AM) 零部件在空隙和缺陷检测以及 3D 计量方面绝佳的解决方案。



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