Phoenix|x-ray アドバンス工業用 X 線および CT

精度、パフォーマンス、生産性の向上

当社の受賞歴のある Phoenix|x-ray ソリューションは、高度な工業用 X 線撮影と CT システムを組み合わせて、科学および工業用の CT や 3D 計測から、非常に高解像度の電子機器検査まで、非常に幅広い検査および計測用途に対応します。 業界をリードするイノベーションと専門知識が独自のハードウェア、ソフトウェア、サービスのすべての要素に組み込まれているため、かつてなく迅速かつ正確にすべての欠陥を見つけることができます。

ラボおよびアトライン検査の速度と精度の向上

3D 計測や分析など、幅広い 2D と 3D のラボおよびアトライン検査タスク向けに、独自に設計された強力な X 線 CT システムを使用して迅速に結果を出せますが、その結果の精度において妥協する必要はありません。 さまざまな材料、オブジェクト、コンポーネントの小さなサンプルから大きなサンプルまで、最高の精度で検査します。

生産ラインの自動化を強化する

インラインおよびアトラインの 3D 検査ソリューションにより、画質を損なうことなく生産性を向上させます。 当社の Phoenix Speed|scan 64 スキャナーは、完全自動のインラインスキャンを可能にし、従来のモデルと比較して 4 倍高速な検査と、大型軽金属鋳造用の従来の工業用ファンビーム CT と比較して 100 倍以上高速な検査を実現しています。

専門知識と最新の技術を簡単に利用できるようにする

カスタマーソリューションセンター (CSC) でのオンデマンド検査から、レンタル、トレーニング、カスタマイズ、コンサルティングサービスまで、検査サービスを通じて最新の技術と専門知識をご利用ください。 最新の Phoenix|x-ray CT ソリューションを活用した検査スキャンサービスは、24 時間年中無休の技術サポート、問題診断サポートなどの遠隔サービスに加えて、時間単位、スキャン単位、またはプロジェクト単位で利用できます。

業界の最も困難な課題を解決する

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航空宇宙
Automotive Industry

  

自動車
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エレクトロニクス
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エネルギー
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製造
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研究開発

当社の製品について調べる

phoenix micromex and nanomex neo

Phoenix Microme|x Neo および Nanome|x Neo

1 つのシステムに 3D コンピューター断層撮影 (CT) オプションを備えた高精度 2D X 線電子部品検査技術。半導体、PCBA、リチウムイオン電池などの電子部品の効率的な非破壊試験 (NDT) に最適です。

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Phoenix V|tome|x S240

2D X 線検査および 3D コンピューター断層撮影用の非常に用途の広い高解像度システム。microCT および nanoCT スキャナーで比類のない柔軟性と効率を提供し、microCT スキャンでは最大 2 倍の速度と 2 倍の解像度となります。

Phoenix V|tome|x M300

Phoenix V|tome|x M300

scatter|correct 技術を使用した 3D 計測および分析用に設計された世界初の microCT スキャナーで、スキャッターアーティファクトを自動的に除去してより高い画質を実現します。 高品質の 3D micro および nanoCT の結果と、300 kV の透過電力による卓越した計測精度により、安全性とスループットが向上します。

 

Phoenix V|tome|x C CT scanner

Phoenix V|tome|x C450

強力でコンパクトな 450 kV の精密 CT スキャナーは、吸収部品や大型の軽金属鋳物用に特別に小サイズの設計となっています。 その生産指向の低メンテナンス設計により、速度と柔軟性が提供され、半自動化された非破壊試験と 3D 計測を組み合わせることができます。

Phoenix Speed|scan CT64 helix CT scanner

Speed|scan CT 64

大型鋳物の高スループットインライン CT 検査用に構築されたガントリーベースの CT スキャナーです。革新的な高速産業プロセス・生産管理を提供します。オプションで最大 100% のインライン CT 検査をカバーするロボットを装備でき、プロセスの最適化と他に類のない品質保証を可能にします。

Phoenix Speedscan HD inline microCT scanner for battery inspection

Phoenix Speedscan HD

完全に自動化された高速インライン CT 生産プロセスの制御と最適化に最適な microCT ソリューション (バッテリーの製造や射出成形など)。 高スループットで 25 ミクロンまでの卓越したボクセル解像度、合格/不合格を判定する人工知能に最適化された自動欠陥認識 (ADR) 、および完全に自動化されたCTワークフローにより、Speed|scan HD システムは新しい基準を打ち立てます。

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