v|tome|x c

v|tome|x cには4Mピクセルのdynamic41|200が標準搭載されます(ピクセルピッチ200μm)。 従来のDXRディテクタに対し約10倍の感度を備え、画質を落とすことなく2~3倍のスピードで検査を行う事が可能。  
 
また、オプションにて16Mピクセル(ピクセルピッチ100μm)のdynamic41|100を搭載可能。 幾何倍率はそのままに従来の2倍の解像度を実現。  

CT scanning provides precise 3D coordinate information of visible and non-visible surfaces. The phoenix v|tome|x c delivers a measuring precision of 20+L/100 µm relative to the VDI 2630 guideline. 
 
The phoenix v|tome|x c can inspect different parts from multiple production lines for statistical production process control in one pass and completed as quickly as possible.  

scatter|correctによりファンビーム画質に迫りながら撮影時間を劇的に短縮する事が可能であり、高密度のサンプルや複合材料からなるサンプルに対して大きな改善をもたらす。dynamic41ディテクタによる2倍速又は2倍解像度もお客様のアプリケーションに合わせて選択が可能。  

撮影～再構成～解析をワンボタンで行う事も可能であり、現場オペレーターの工数削減を実現 
 

one-button|CTにより撮影~再構成～解析をワンボタンで行う事も可能であり、現場オペレーターの工数削減を実現。high-speed (HS)設定では、quick|pickマニュピュレーターで完全に自動でブレード検査が可能

異なる生産ラインの異なる部品に対しても統計データを短時間で取得。ロバストでありながら省設置スペースも実現。

Besides inspection, CT scanning also provides precise 3D coordinate information even of hidden surfaces. The phoenix v|tome|x c delivers a measuring precision of 20+L/100 µm referring to VDI 2630 guideline.

高密度のサンプルに対しても有効な十分なX線透過性能を備え、画質においてもASTM E 1695を基準に解像度、コントラストを高いレベルで実現。防塵仕様やサンプル設置に対する補助機能も加わり、生産ラインでの使用を想定したデザインを採用。