工業用 X 線検査

Phoenix V|tome|x L 300 - マイクロフォーカス CT システム

phoenix v|tome|x L 300 は、3D コンピューター断層撮影 (microCT) および 2D 非破壊 X 線検査用の、多用途高解像度マイクロフォーカスシステムです。 ユニポーラ 300 kV/500 W マイクロフォーカスソースと、180kV/20W 高出力ナノフォーカス X 線管とのデュアル管の組み合わせによる、オプションの nanoCT 機能を備えています。

このシステムは、最高 50 kg、最大直径 500 mm の大型サンプルを非常に高い精度で処理します。 このシステムは、複合材料、鋳造品、精密部品 (噴射ノズルやタービンブレード) などのボイドや欠陥の検出および 3D 計測 (初回品検査など) に適した非常に柔軟なソリューションです。

当社は以前は GE Inspection Technologies という名称でしたが、現在の名称は Waygate Technologies であり、品質、安全性、生産性の確保において 125 年以上の経験を持つNDTソリューションのグローバルリーダーです。

お問い合わせ

専門家に問い合わせる

専門家に問い合わせる
Waygate Technologies の対象分野の専門家の 1 人に連絡してください。