工業用 X 線検査

Phoenix V|tome|x L 300 - マイクロフォーカス CT システム

phoenix v|tome|x L 300 は、3D コンピューター断層撮影 (microCT) および 2D 非破壊 X 線検査用の、多用途高解像度マイクロフォーカスシステムです。 ユニポーラ 300 kV/500 W マイクロフォーカスソースと、180kV/20W 高出力ナノフォーカス X 線管とのデュアル管の組み合わせによる、オプションの nanoCT 機能を備えています。

このシステムは、最高 50 kg、最大直径 500 mm の大型サンプルを非常に高い精度で処理します。 このシステムは、複合材料、鋳造品、精密部品 (噴射ノズルやタービンブレード) などのボイドや欠陥の検出および 3D 計測 (初回品検査など) に適した非常に柔軟なソリューションです。

以前はGE Inspection Technologiesでしたが、現在はWaygate Technologiesとなり、品質、安全性、生産性の確保において125年以上の経験を持ち、NDTソリューションの世界的リーダーとなっています。

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