microCT および nanoCT コンピューター断層撮影システム
Phoenix Nanotom M
Phoenix Nanotom® M は、科学・産業用コンピューター断層撮影 (microCT と nanoCT®) および 3D 計測用のナノフォーカス X 線 CT システムです。 このシステムは、幅広いサンプルと応用範囲で独自の空間解像度とコントラスト解像度を実現します。 CT スキャン、再構成、分析プロセスの完全に自動化された実行により、その使いやすさと高速で信頼性の高い CT 結果が保証されます。 複雑な物体の正確で再現性のある 3D 測定と、最初の品目検査レポートの 1 時間以内の自動生成が可能です。
お問い合わせ
製品の特長
-
機能
-
- 最大 200 nm の詳細検出と内部冷却を備えたオープン 180 kV / 20 W 高出力ナノフォーカス X 線管 – 長期安定性のために最適化
- 10,000 : 1 を超える高ダイナミックレンジに対応する独自の温度安定化デジタル DXR 検出器 (3072 x 2400 ピクセル) による非常に高い画質
- Phoenix Datos|x ソフトウェアパッケージ「click & measure CT」
- 3D 計測用途用の計測バンドル: 温度安定化キャビネット、高精度直接測定システム、グラナイトベースのマニピュレーターの防振など
- Diamond|window
-
お客様のメリット
-
- 幅広いサンプル範囲での独自の空間およびコントラスト分解能 – 小さな材料から 3 桁の中型プラスチックサンプルまで (0.25 mm から 250 mm のサンプル高と 3 kg / 6.6 ポンドのサンプル重量)
- 安定した取得条件、数分以内の高速再構成、再現性のある測定結果のために最適化された 3D 計測パッケージ
- システム設計と高度な Phoenix Datos|x CT ソフトウェアによる最適化された使いやすさ
- 長さのある部品をさらに良い品質でスキャンするためのオプションの Helix|scan 機能
- 非常に高い焦点スポット安定性と、同じ高画質レベルで最大 2 倍高速なデータ取得を実現できる Diamond|window
Showing of items
←
→
Recently visited products
©2022 Baker Hughes Company