非破壊試験用に設計された CR カセッテ

コンピューター X 線撮影 (CR) カセッテ

ウェイゲイトテクノロジーズ (改称前は GE Inspection Technologies (GEIT)) のカセッテは、非破壊試験用に特別に設計されています。 CR カセッテは軽量で、非常に簡単に使用できます。 合成素材により、総合的な耐久性で剛性が最大化されています。 工業用 X 線は放射線エネルギーが高いため、標準的な医療用カセッテは使用できません。 そのため、このカセッテは前面に 200μm (0.008 インチ) の銅製 (Cu) スクリーンを組み込んで提供することができます。また背面には常に 200μm (0.008 インチ) の銅が組み込まれているため、最適な後方散乱保護が確保され、最適な画質が得られます。

以前はGE Inspection Technologiesでしたが、現在はWaygate Technologiesとなり、品質、安全性、生産性の確保において125年以上の経験を持ち、NDTソリューションの世界的リーダーとなっています。

 

 

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