phoenix neo side by side

Inspección premium de alto rendimiento con nanoenfoque y microenfoque para componentes electrónicos

Soluciones de inspección END para componentes electrónicos

Phoenix Microme|x Neo y Nanome|x Neo

El Phoenix Microme|x Neo y el Nanome|x Neo combinan la tecnología de rayos X 2D, PlanarCT y el escaneado de tomografía computarizada (TC) 3D de alta resolución en un solo sistema, lo que permite realizar ensayos no destructivos (END) de componentes electrónicos, como semiconductores, placas de circuitos impresos o baterías de iones de litio, en los sectores industriales, de automoción, de aviación y de electrónica de consumo. Con un innovador diseño, combinado con una precisión de posicionamiento ultra alta, el Phoenix Microme|x Neo y el Nanome|x Neo son perfectos para las inspecciones de componentes electrónicos mediante radiografía industrial en el marco del control de los procesos y la calidad con el fin de aumentar la productividad, realizar análisis de fallos para mejorar la seguridad y la calidad de los productos e impulsar el I+D, del que nacen las innovaciones.

Descubra todas las características nuevas de la versión más reciente del Phoenix Nanome|x y el Microme|x Neo.

Nuestra empresa, antes conocida como GE Inspection Technologies, ha pasado a llamarse Waygate Technologies y es uno de los líderes globales en el ámbito de las soluciones de ensayos no destructivos (END), con más de 125 años de experiencia dedicados a garantizar la calidad, la seguridad y la productividad.

Phoenix Microme|x Neo y Nanome|x Neo: principales características

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