phoenix neo side by side

Leistungsstarke und hochwertige Nanofocus- und Mikrofokus-Inspektion für Elektronik

Lösungen für die zerstörungsfreie Prüfung von Elektronik

Phoenix Microme|x Neo und Nanome|x Neo

Der Phoenix Microme|x Neo und der Nanome|x Neo bieten hochauflösende 2D-Röntgentechnologie und PlanarCT und 3D-Computertomographie(CT) in einem System. So können Elektronikkomponenten wie Halbleiter, Leiterplatten und Lithium-Ionen-Akkus in den Bereichen Industrie, Automobile, Luftfahrt und Verbraucherelektronik zerstörungsfrei geprüft werden. Mit innovativer Technik und extrem hoher Positioniergenauigkeit eignen sich der Phoenix Microme|x Neo und Nanome|x Neo ideal für die Röntgeninspektion von Industrieelektronik in der Prozess- und Qualitätskontrolle für höhere Produktivität, Fehleranalyse für höhere Sicherheit und Qualität Ihrer Produkte und F&E zur Entwicklung neuer Innovationen.

Entdecken Sie alle neuen Funktionen der neuesten Versionen von Phoenix Nanome|x und Microme|x Neo.

Wir waren GE Inspection Technologies, jetzt sind wir Waygate Technologies - nach wie vor ein Weltmarktführer in ZfP-Lösungen und können auf über 125 Jahre Erfahrung in der Sicherung von Qualität, Sicherheit und Produktivität zurückgreifen.

Phoenix Microme|x Neo und Nanome|x Neo – Wichtige Merkmale

Kontakt aufnehmen

Mit einem Experten sprechen

Häufig gestellte Fragen

Überzeugen Sie sich selbst.
Kontaktieren Sie uns und vereinbaren Sie einen Termin für eine Vorführung vor Ort oder virtuell, so dass Sie sämtliche Funktionen von Phoenix Microme|x Neo and Nanome|x Neo kennenlernen können.