phoenix microme|x neo and nanome|x neo

2D-AXI mit planar- und 3D-CT-Option | Zerstörungsfreie Elektronikinspektion

phoenix microme|x neo and nanome|x neo

phoenix microme|x neo und nanome|x neo integrieren hochauflösende 2D-Röntgentechnologie und 3D-Computertomografie (CT) in einem System zur zerstörungsfreien Inspektion von elektronischen Komponenten – wie beispielsweise Halbleitern, bestückten Leiterplatten, Sensoren oder Lithium-Ionen-Batterien. Dank innovativer Technik, einzigartiger mikro- bzw. nanofokus Röhren- und Detektortechnologie und höchster Positioniergenauigkeit eignen sich der phoenix microme|x neo und nanome|x neo ideal für die industrielle Röntgenelektronikprüfung in der Prozess- und Qualitätskontrolle, zur Fehleranalyse sowie in der Forschung und Entwicklung.

Folgende Konfigurationen sind erhältlich:

phoenix microme|x 160 als mikrofokus Einsteigersystem

phoenix microme|x 180 für mikrofokus Inspektion mit DXR Detektor und Durchstrahlung auch stärker absorbierender Teile

phoenix nanome|x 180 premium nanofokus Inspektion mit höchster Detailerkennbarkeit von bis zu 200 Nanometern.

Unique features

  • Automated inspection in micrometer range with easy to program CAD based μAXI
  • Active cooling for high dynamic, live imaging at 180 kV configurations
  • Brilliant live imaging and fast data acquisition for 3D CT / planarCT scanning with:
  • 30 frames per second with Waygate Technologies’ highly dynamic DXR flat panel detector
  • Up to 2 times faster data acquisition at same high image quality level with diamond|window
  • Option provided for 3D CT scans within up to 10 seconds

We used to be GE Inspection Technologies, now we’re Waygate Technologies, a global leader in NDT solutions with more than 125 years of experience in ensuring quality, safety and productivity.

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