phoenix neo side by side

适用于电子产品的高性能优质纳米焦点和微焦点检测

电子产品无损检测解决方案

Phoenix Microme|x Neo 和 Nanome|x Neo

Phoenix Microme|x NeoNanome|x Neo 在同一个系统中提供了高分辨率的 2D X 射线技术和 3D 计算机断层扫描技术 (CT),可以在工业、汽车、航空和消费类电子行业中对电子元器件(如半导体、PCB、锂离子电池)进行无损检测 (NDT)。 Phoenix Microme|x NeoNanome|x Neo 凭借创新的工程设计与超高的定位精度,非常适用于电子行业生产过程检测,如产量提升需求下的质量控制、更高产品安全性和质量需求下的故障分析以及产品创新研发。

了解最全 Phoenix Nanome|x 和 Microme|x Neo 产品新功能。

Waygate Technologies(前身为 GE Inspection Technologies)是无损检测解决方案的全球领导者,在保障质量、安全和生产率方面拥有超过 125 年的经验。

Phoenix Microme|x Neo 和 Nanome|x Neo — 主要特点

与我们联系

与专家交流

常见问题

现场体验
请联系我们来为您专门安排现场或线上样品测试,以了解 Phoenix Microme|x Neo 和 Nanome|x Neo 的全部功能