在更短的时间内获得优质的 CT 结果

Dynamic 41|100--卓越的图像质量 X 射线平板探测器

  • Dynamic 41|100 是 Waygate Technologies 下一代工业 X 射线平板探测器平台的首款产品。 其检测面积约为 410×410mm²(16"×16"),像素大小为 100μm,在实现卓越图像质量的同时提供更快的检测速度。
  • Waygate Technologies 基于专有的 X 射线平板探测器技术,独家向其射线照相和 CT 客户提供其首个专门为粗加工和高能量消耗工业 X 射线应用而设计和优化的 100 μm、16M 像素的平板探测器。 与传统的 GadOx 或其他基于粉末的闪烁体相比,Waygate 专有的EnduranceTM CSI 闪烁体具有更高的分辨率和亮度。

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