具有极高灵活性和效率的工业 microCT 和 nanoCT 扫描仪

Phoenix V|tome|x S240

检测技术的进步为 2D X 射线检测和 3D 计算机断层扫描(microCT 和 nanoCT®)以及 3D 计量带来了一款多功能的高分辨率系统。 由于 microCT 扫描速度提高了 2 倍,分辨率也提高了一倍,现在对小型资产的 CT 扫描比以往任何时候都更加高效。

无论您是需要提高速度,检测细节,还是两者,Baker Hughes 旗下 Waygate Technologies 的 Phoenix V|tome|x S240 都能很好地完成任何 3D 工业或科学 microCT 任务。这款 CT 扫描仪特别适用于应对电子、研发、科学和汽车行业的检测挑战。

为了实现高度的灵活性,V|tome|x S240 可以选配 180 kV/20 W 高功率纳米聚焦 X 射线管和 240 kV/320 W 微聚焦 X 射线管。 由于这种独特的组合,该系统是多种应用的理想工具,适用于低吸收能力材料的超高分辨率 nanoCT 扫描(细节检测能力达到 0.2 微米),以及对重达 10 kg、直径达 500 mm 的高吸收性物体进行 3D 分析(使用 microCT)。

 

畅销的工业 CT 主力军 — 比前代更强

Phoenix V | tome | x S 于 2003 年推出时,是首款实验室规模的高分辨率 micro 和 nanoCT® 系统。 凭借其独特的 Dual|tube(双管)配置选项,它迅速成为备受世界各地研究机构和质量实验室青睐的 CT 系统。
随着新一代创新型系统的问世,客户将获得更强大的功能以及该 2D 检测和 3D CT 系统前所未有的多功能性,不仅分辨率高、简单易用、可靠,而且还具有出色的性价比。

 

主要优势包括:

  • 可选择多种配置。 可实现灵活的开放式纳米聚焦-微聚焦双管组合(180 kV/20 W 大功率纳米聚焦 X 射线管和 240 kV/320 W 微聚焦管)
  • 超级可靠。 灯丝寿命延长 10 倍,通过长寿命灯丝确保长期稳定性,优化系统效率。
  • 能够在不影响图像质量的情况下提高速度。 采用 diamond|window(菱形窗口),在相同的高图像质量水平下,数据采集速度可提高 2 倍
  • 通过可选的 offset|scan(偏移|扫描)和 helix|scan(螺旋|扫描)功能,最大限度地提高了扫描灵活性
  • 高结果质量下的高吞吐量:Phoenix V|tome|x S240 是全球为数不多的将高效的 Dynamic 41 检测仪技术和 High-flux|target 结合起来的 CT 系统之一 — 实现了高
    图像质量:因为它的扫描速度更快,或具有更高的准确度
  • 全面的 2D 检测能力:带机械手倾斜轴 (+/-45°),以实现高度灵活的放射线探伤

Waygate Technologies(前身为 GE Inspection Technologies)是无损检测解决方案的全球领导者,在确保质量、安全和生产率方面拥有超过 125 年的经验。

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